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  檔案名稱:  TH510系列半導體器件C-V特性分析儀
  公司名稱:  上海伊測電子科技有限公司
  下載次數:   940
  文件詳細說明:
 

半導體器件CV特性測試

TH510系列半導體器件C-V特性分析儀
性能特點
■ 10.1英寸電容式觸摸屏,分辨率1280*800,Linux系統
■ 雙CPU架構LCR,*快達0.56ms(1800次/秒)的測試速度
■ 點測、列表掃描、圖形掃描(選件)三種測試方式
■ 四寄生參數(Ciss、Coss、Crss、Rg)同屏測量及顯示
■ 快速導通測試Cont
■ 一體化設計:LCR+高壓源+通道切換
■ 標配2通道測試,可同時測試兩個器件或雙芯片器件,通道
*多可擴展至6通道,通道參數單獨保存
■ 快速充電,縮短電容充電時間,實現快速測試
■ 自動延時設置
■ 高偏置:VGS:0 - ±40V,VDS:0 – 200V/1500V
■ 10檔分選
應用
■ 半導體元件/功率元件
二極管、三極管、MOSFET、IGBT、晶閘管、集成電路、光電子芯片等寄生電容測試、C-V特性分析
■ 半導體材料
晶圓、C-V特性分析
■ 液晶材料
彈性常數分析
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